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1. 目的：
為使本公司電子產(chǎn)品於電壓下降、中斷干擾耐受性測試時,能有統(tǒng)一之規(guī)範(fàn)及流程可供依循,特訂定本程序書，本試驗的目的是模擬電源電壓瞬間下降或中斷頻對電子產(chǎn)品所造成的干擾,並判別其耐受性。
2. 適用範(fàn)圍：執(zhí)行電源電壓下降、中斷干擾耐受性測試時,適用之。
3. 名詞定義：
3.1 電壓下降：電子系統(tǒng)的電源電壓在一個時間點突然減少，接著在很短的時間內(nèi)電壓又回復(fù)正常，發(fā)生的時間從半個週期到幾秒鐘。
3.2 短暫中斷(short interruption)：電源供應(yīng)消失一段時間不超過一分鐘。電源的短暫中斷可以視為振幅100﹪的電壓下降。
3.3 電壓變動(voltage variation)：電源的電壓逐漸地變動到比額定電壓值高或低，變動的時間可以是長週期或短週期。
3.4 功能失常(malfunction)：設(shè)備得到非預(yù)期的結(jié)果或咦鞴δ苤袛唷
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