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圖七 實驗室執(zhí)行的測試配置
5.3.2.2 EUT測試電壓的耦合方式
測試電壓必須用在下列不同型式的待測設備的連接線及埠上。
（1） 電源供應埠：對於干擾電壓，經(jīng)由耦合去耦合網(wǎng)路的直接耦合的測試配置是參照圖八。如果線上的電流，是比耦合去耦合網(wǎng)路所規(guī)定的電流能力還高，例如大於100A時，則測試電壓必須依照圖十，經(jīng)由33nF耦合電容加到EUT上。
（2） I/O和通信埠：在圖七和圖九中所顯示的範例，為如何使用電容性耦合夾具，作為I/O和通信埠的干擾測試電壓的應用。
（3） 機櫃的接地連接：在機櫃的測試點必須作為保護性接地的端點。
測試電壓必須經(jīng)由耦合去耦合網(wǎng)路，使用在保護性接地參照圖八
